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SI-FZ

SI-FZ斐索干涉儀

斐索干涉儀原理為等厚干涉,單色光束在標準平面或標 準球面上,部分反射為參考光束;部分透射并通過被測件后 反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回,與參考 光束重合,形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學(xué)元件 面形、光學(xué)鏡頭波面像差以及光學(xué)材料均勻性等參數(shù)的一種精密儀器。
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產(chǎn)品概述
SI-FZ斐索干涉儀
斐索干涉儀原理為等厚干涉，單色光束在標準平面或標 準球面上，部分反射為參考光束 ；部分透射并通過被測件后 反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回，與參考 光束重合，形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學(xué)元件 面形、光學(xué)鏡頭波面像差以及光學(xué)材料均勻性等參數(shù)的一種 精密儀器。

SI-FZ斐索干涉儀實驗原理圖：

SI-FZ斐索干涉儀組件表：
組件
干涉儀光學(xué)系統(tǒng)由各種組件構(gòu)成，為了更加便捷的搭建或改造實驗系統(tǒng)，也可進行單獨選購。